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  • MF-A3017B日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B
    日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B 它能对应明视野、明暗视野、偏光、微分干涉等各式各样的被测物之观察评估。  有同等级显微镜中更大的载物台(400×200㎜),并设计有大范围量测时很方便的快速移动装置。   Z轴附有高精度的光学尺。   在Z轴的两侧都装有对焦旋钮,及内藏式X、Y轴归零按键等,亦是重视操作性的新设计。  处理系统搭配二次元资料A25D使用,尺寸量测更简易。
    更新日期:2024-08-03厂商性质:经销商浏览量:1947
  • 176-861供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D
    供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D 特点 可观察清晰无闪烁正像,且视场开阔。 测量精度在同类设备中高(符合JIS B 7153标准)。 使用ML系列,专门为MF系列设计的高NA物镜(长工作距离型)。 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡。 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量。 各类尺寸的标准工作台,z大达到400*200mm。
    更新日期:2024-08-02厂商性质:经销商浏览量:2828
  • 378日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列
    日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列 • M/BD Plan Apo (M Plan Apochromat 亮视场) 系列具有在整个视野中实现高彩色再现性所需的图像均匀度。 • 以下物镜支持波长范围广,包括近紫外、可见和紫外激光。专业 LCD 激光物镜 : M/LCDPlan NIR (-HR) 系列 (用于超长工作距离激光加工的近紫外校正透镜)
    更新日期:2024-08-01厂商性质:经销商浏览量:4977
  • VMU-V三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V
    三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V • 紧凑轻量型显微镜,相机观察型。适于检测金属表面、半导体、液晶面板、树脂等。 • 多种镜体通常用作适用于专业器械的 OEM(原厂委制) 产品,如那些利用 YAG (近红外、可见、近紫外或紫外) 激光 * 对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。
    更新日期:2024-08-01厂商性质:经销商浏览量:4048
  • FS70Z日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z
    日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z • 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。 • 多种显微镜镜体通常用作适用于专业器械 的 OEM(原厂委制) 产 品, 如 那 些 利 用YAG(近红外、可见、近紫外或紫外) 激光 *对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。
    更新日期:2024-08-01厂商性质:经销商浏览量:4580
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