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    日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B 它能对应明视野、明暗视野、偏光、微分干涉等各式各样的被测物之观察评估。　 有同等级显微镜中更大的载物台（400×200㎜），并设计有大范围量测时很方便的快速移动装置。　　 Z轴附有高精度的光学尺。　　 在Z轴的两侧都装有对焦旋钮，及内藏式X、Y轴归零按键等，亦是重视操作性的新设计。　 处理系统搭配二次元资料A25D使用，尺寸量测更简易。
    更新日期：2024-08-03厂商性质：经销商浏览量：1947
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    供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D 特点 可观察清晰无闪烁正像，且视场开阔。 测量精度在同类设备中高（符合JIS B 7153标准）。 使用ML系列，专门为MF系列设计的高NA物镜（长工作距离型）。 照明装置（反射/透射）可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡。 利用可变孔径光阑（反射/透射）可进行无衍射观察测量。 各类尺寸的标准工作台，z大达到400*200mm。
    更新日期：2024-08-02厂商性质：经销商浏览量：2828
  • 378日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列
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    日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列 • M/BD Plan Apo （M Plan Apochromat 亮视场） 系列具有在整个视野中实现高彩色再现性所需的图像均匀度。 • 以下物镜支持波长范围广，包括近紫外、可见和紫外激光。专业 LCD 激光物镜 : M/LCDPlan NIR （-HR） 系列 （用于超长工作距离激光加工的近紫外校正透镜）
    更新日期：2024-08-01厂商性质：经销商浏览量：4979
  • VMU-V三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V
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    三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V • 紧凑轻量型显微镜，相机观察型。适于检测金属表面、半导体、液晶面板、树脂等。 • 多种镜体通常用作适用于专业器械的 OEM（原厂委制） 产品，如那些利用 YAG （近红外、可见、近紫外或紫外） 激光 * 对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。
    更新日期：2024-08-01厂商性质：经销商浏览量：4049
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    日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z • 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。 • 多种显微镜镜体通常用作适用于专业器械 的 OEM（原厂委制） 产 品， 如 那 些 利 用YAG（近红外、可见、近紫外或紫外） 激光 *对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。
    更新日期：2024-08-01厂商性质：经销商浏览量：4582
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